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產品概述：

是一種多用途工業(yè)檢驗用光學儀器，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統，視場清晰。

功能特點：

可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業(yè)試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器

技術參數：

▲      采用無限遠光學系統及模塊化功能設計。

▲      長工作距離明/暗視場平場物鏡，視場大而清晰。

▲      廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。

▲      粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，，微動格值:2μm。

▲      內置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉。

▲      上光源采用翻蓋式12V50W鹵素燈箱，更換燈炮安全便捷，，下光源采用12V30W鹵素燈，加裝散熱片。

▲      三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可100%通光，，適合暗視場顯微圖像拍攝。

基本配置：

可選附件：